技術(shù)文章
更新時(shí)間:2026-06-02
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半導(dǎo)體晶圓 / 芯片電學(xué)參數(shù)測(cè)試(IV、CV、電阻率等)
氣敏傳感器靈敏度、響應(yīng)特性測(cè)試
LED、LCD、太陽能電池光電性能與可靠性測(cè)試
新型材料、二維材料、超導(dǎo)材料低溫 / 高溫物性研究
集成電路、功率器件高低溫老化與可靠性驗(yàn)證
可滿足物理研究、材料分析、器件研發(fā)、產(chǎn)線質(zhì)檢全流程需求,是微納電子與先進(jìn)材料領(lǐng)域的關(guān)鍵測(cè)試設(shè)備。
低溫下水汽結(jié)露導(dǎo)致漏電偏大、接觸不良
高溫下氧氣氧化樣品,造成電性偏差與結(jié)構(gòu)形變
空氣介電損耗與電磁干擾,保障微弱信號(hào)測(cè)試穩(wěn)定。
樣品臺(tái):2 英寸不銹鋼,平整度 5μm
溫控范圍:83K–623K(液氮制冷)
控溫精度:±0.25℃,分辨率 0.1℃
真空度:6×10??mbar(配分子泵組)
三軸行程:X/Y=25mm,Z=18mm
探針定位精度:10μm
腔體材質(zhì):化學(xué)鍍鎳鋁雙腔體
整機(jī)尺寸:620×400×260mm(帶顯微鏡)
供電:220V AC 50Hz
環(huán)境真實(shí)可控:真空 + 高低溫協(xié)同控制,貼近器件實(shí)際工況,數(shù)據(jù)更可信。
測(cè)試精度更高:低漏電、低漂移、高重復(fù)性,滿足科研與出廠質(zhì)控要求。
穩(wěn)定耐用易維護(hù):優(yōu)質(zhì)密封與管路設(shè)計(jì),漏率低、壽命長、日常維護(hù)簡(jiǎn)單。
模塊化可擴(kuò)展:支持探針夾具、真空系統(tǒng)、溫控模塊選配,適配多場(chǎng)景升級(jí)。
國產(chǎn)高性價(jià)比:對(duì)標(biāo)進(jìn)口設(shè)備性能,交付更快、售后更及時(shí)、綜合成本更低。
高校 / 科研院所:物理、材料、電子、微電子等實(shí)驗(yàn)室
半導(dǎo)體企業(yè):芯片、功率器件、集成電路研發(fā)與質(zhì)檢
傳感器廠商:氣敏、溫濕度、MEMS 器件性能測(cè)試
光電 / 新能源企業(yè):LED、LCD、太陽能電池、薄膜電池測(cè)試
第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu):材料分析、器件可靠性與失效分析
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