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產(chǎn)品中心探針臺(tái)/冷熱臺(tái)測試儀系列真空探針臺(tái)
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真空探針臺(tái)測試儀，用于芯片，氣敏元器件等在不同氣氛環(huán)境下電學(xué)性能，也可用 于材料分析。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體電學(xué)性能測試、物理研究，氣敏分析、集成電路、LED、LCD、太陽能電池等行業(yè)的制造和研究領(lǐng)等系統(tǒng)中的重要部件。
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